از جمله مهم‌ترین اجزای مدارهای رقمی با کارآیی بالا فلیپفلاپهای پالسدار هستند. عملکرد نادرست این واحدها باعث کاهش قابلیت اطمینان این مدارهای پرکاربرد در عرصه صنعت می‌گردد. همراه با پيشرفت فناوری ساخت مدارهای مجتمع، انواع تغییرات اعم از تغییرات ناشی از فرآیند ساخت و تغییرات ناشی از سالمندی ترانزیستورها (به‌طور خاص ناپایداری دمایی ناشی از بایاس ) باعث افزایش نرخ خرابی در مدارهای رقمی شده و در نتیجه، منجر به کاهش قابلیت اطمینان این مدارها می‌گردد. در این مقاله، با استفاده از آزمایشهای گسترده مونت کارلو و نرم افزار شبیه ساز HSPICE، قابلیت اطمینان چندین فلیپ‌فلاپ پالسدار با در نظر گرفتن اثرات تغییرات ساخت و تغییرات ناشی از سالمندی ترانزیستورها مورد بررسی قرار گرفته است. نتایج شبیهسازیها نشان میدهد که قابلیت اطمینان این فلیپ‌فلاپ‌ها برای 30% تغییرات ساخت و پس از 6 سال در بهترین حالت به 50/0 و در بدترین حالت به 18/0 خواهد رسید. سپس، به منظور بهبود قابلیت اطمینان این فلیپ‌فلاپ‌ها، روش تخصیص ولتاژ آستانه دوگانه پیشنهاد شده است. به این ترتیب که پس از تحلیلهای انجام شده، با تشخیص ترانزیستورهای حساس به تغییرات، به این ترانزیستورها ولتاژ آستانه بالاتر تخصیص داده می‌شود و به این صورت، قابلیت اطمینان آنها را در برابر اثرات انواع تغییرات افزایش میدهیم. نتایج به دست آمده نشان میدهند که با اعمال این روش، در ازای تنها %8 سربار در توان نشتی، قابلیت اطمینان این فلیپ‌فلاپ‌ها به‌طور میانگین تا 40% بهبود داده می‌شود.